Electron Beam Divergence Due to Self-Potential
Application ID: 16045
When modeling the propagation of charged particle beams at high currents, the space charge force generated by the beam significantly affects the trajectories of the charged particles. Perturbations to these trajectories, in turn, affect the space charge distribution.
The Charged Particle Tracing interface can use an iterative procedure to efficiently compute the strongly coupled particle trajectories and electric field for systems operating under steady-state conditions. Such a procedure reduces the required number of model particles by several orders of magnitude, compared to methods based on explicit modeling of Coulomb interactions between the beam particles. A mesh refinement study confirms that the solution agrees with the analytical expression for the shape of a nonrelativistic, paraxial beam envelope.

この model の例は, 通常次の製品を使用して構築されるこのタイプのアプリケーションを示しています.
ただし, これを完全に定義およびモデル化するには, 追加の製品が必要になる場合があります. さらに, この例は, 次の製品の組み合わせのコンポーネントを使用して定義およびモデル化することもできます.
アプリケーションのモデリングに必要な COMSOL® 製品の組み合わせは, 境界条件, 材料特性, フィジックスインターフェース, パーツライブラリなど, いくつかの要因によって異なります. 特定の機能が複数の製品に共通している場合もあります. お客様のモデリングニーズに適した製品の組み合わせを決定するために, 製品仕様一覧 を確認し, 無償のトライアルライセンスをご利用ください. COMSOL セールスおよびサポートチームでは, この件に関するご質問にお答えしています.