Study of a Defective Microstrip Line via Frequency-to-Time FFT Analysis
Application ID: 67361
While transient analyses are useful for time domain reflectometry (TDR) to handle signal integrity (SI) problems, many RF and microwave examples are addressed using frequency domain simulations generating S-parameters. However, from the frequency domain data it is difficult to identify sources for this signal degradation. This example simulates a microstrip line in frequency domain with a couple of line width discontinuities and performs frequency-to-time fast Fourier transform. The computed results help to identify the physical discontinuities and impedance mismatches on the transmission line, by analyzing the signal fluctuation in the time domain.
この model の例は, 通常次の製品を使用して構築されるこのタイプのアプリケーションを示しています.
ただし, これを完全に定義およびモデル化するには, 追加の製品が必要になる場合があります. さらに, この例は, 次の製品の組み合わせのコンポーネントを使用して定義およびモデル化することもできます.
アプリケーションのモデリングに必要な COMSOL® 製品の組み合わせは, 境界条件, 材料特性, フィジックスインターフェース, パーツライブラリなど, いくつかの要因によって異なります. 特定の機能が複数の製品に共通している場合もあります. お客様のモデリングニーズに適した製品の組み合わせを決定するために, 製品仕様一覧 を確認し, 無償のトライアルライセンスをご利用ください. COMSOL セールスおよびサポートチームでは, この件に関するご質問にお答えしています.