技術論文とプレゼンテーション

在低频消磁磁场作用下研究孔缝对金属箱体内电磁屏蔽效能的影响。由于船舰上金属箱体存在功能性必需开口的孔缝，低频消磁磁场会干扰或损伤金属箱体内部的电子元器件。文中利用COMSOL仿真软件计算分析孔缝形状和屏蔽层参数对金属箱体几何中心点屏蔽效能的影响，以及孔缝对金属箱体内不同位置处屏蔽效能的影响，进而给出屏蔽层参数以及金属箱体孔缝对其内部电磁屏蔽效能影响的变化规律。结果表明，随着孔缝数量逐渐增加，屏蔽效能逐渐降低，尤其当增加4倍的孔缝数量，屏蔽效能最大降低3.5 dB。另外，屏蔽效能随着屏蔽层相对磁导率的变化急剧增加，随后趋于平稳；而且屏蔽层厚度的增加，加快屏蔽效能的变化；但电导率对外加磁场的脉冲阶段的屏蔽效能影响最大，这个过程中的屏蔽作用主要源于磁通分流效应。