アプリケーションギャラリには電気, 構造, 音響, 流体, 熱および化学分野に関連する COMSOL Multiphysics® チュートリアルおよびデモアプリファイルが用意されています. これらの例はチュートリアルモデルまたはデモアプリファイルとそれに付随する手順をダウンロードすることにより独自のシミュレーション作業の開始点として使用できます.
クイック検索機能を使用して専門分野に関連するチュートリアルやアプリを検索します. MPHファイルをダウンロードするには, ログインするか, 有効な COMSOL ライセンスに関連付けられている COMSOL アクセスアカウントを作成します. ここで取り上げた例の多くは COMSOL Multiphysics® ソフトウェアに組み込まれ ファイルメニューから利用できるアプリケーションライブラリからもアクセスできることに注意してください.
MOSFETs typically operate in three regimes depending on the drain-source voltage for a given gate voltage. Initially the current-voltage relation is linear, this is the Ohmic region. As the drain-source voltage increases the extracted current begins to saturate, this is the saturation ... 詳細を見る
This model shows how to add several linked mobility models to the simple MOSFET example. 詳細を見る
This model uses the Semiconductor and RF modules to describe a photoconductive antenna (PCA). A laser pulse is applied on the surface of undoped LT-GaAs to generate electron-hole-pairs, which move under the influence of an external E-field creating a transient electric current pulse. ... 詳細を見る
This tutorial model solves a two-component Schrödinger equation for the eigenstates of a simple silicon quantum dot in a uniform magnetic field, based on the paper by Jock et al. on the topic of spin-orbit qubits. The built-in domain condition Lorentz Force for the Schrödinger Equation ... 詳細を見る
This 3D model of a nanowire MOSFET employs the density-gradient theory to add the effect of quantum confinement to the conventional drift-diffusion formulation, without requiring excessively high computational costs. The oxide layer is simulated explicitly with geometric domains, and ... 詳細を見る
This tutorial compares experimental data from the literature with a COMSOL model of a MOSCAP with interface traps (surface states). The Trap-Assisted Surface Recombination feature is used to simulate the effects of the trap charges and the processes of carrier capturing and emitting by ... 詳細を見る
This model calculates the current and charge characteristics of a floating gate Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory (EEPROM) device. A stationary study demonstrates the effects of varying the charge stored on the floating gate by computing Current-Voltage curves as a ... 詳細を見る
このチュートリアルでは, PIN ダイオードの定常応答とパルス応答の過渡解析をそれぞれ行います. 放射線の影響は, デバイス内で空間的に均一な電子-正孔対の生成としてモデル化されます. 高線量率では, 生成された電荷の分離により内部電場強度が減少し, 過剰キャリアが長期間蓄積されます. この現象の定量的な予測は, 解析解を得ることができないため, 数値シミュレーションによってのみ可能です. 高い逆バイアス, 電場依存移動度, および時間依存の解析において収束を達成するためのいくつかの手法を示します. 計算されたキャリア濃度と電場分布は, 参考文献とよく一致しています. 詳細を見る
The metal-silicon-oxide (MOS) structure is the fundamental building block for many silicon planar devices. Its capacitance measurements provide a wealth of insight into the working principles of such devices. This tutorial constructs a simple 1D model of a MOS capacitor (MOSCAP). Both ... 詳細を見る
A gate-all-around MOSFET consists of a nanowire with a gate electrode wrapped around the circumference. Since the entire nanowire forms the channel, this configuration provides the best possible electrostatic control of the channel and offers a good candidate for the miniaturization of ... 詳細を見る