Molecular Flow in an Ion-Implant Vacuum System
Application ID: 10011
Ion implantation is used extensively in the semiconductor industry to implant dopants into wafers. Within an ion implanter, ions generated within an ion source are accelerated by an electric field to achieve the desired implant energy. Ions of the correct charge state are selected by means of a separation magnet, which bends the ion beam to ensure that ions of a particular charge-to-mass ratio are the only ones that reach the wafer. The energy dose and angle of the ion beam are both key parameters for the process.
This example shows how to model an ion implantation system using the Molecular Flow interface.
この model の例は, 通常次の製品を使用して構築されるこのタイプのアプリケーションを示しています.
ただし, これを完全に定義およびモデル化するには, 追加の製品が必要になる場合があります. さらに, この例は, 次の製品の組み合わせのコンポーネントを使用して定義およびモデル化することもできます.
アプリケーションのモデリングに必要な COMSOL® 製品の組み合わせは, 境界条件, 材料特性, フィジックスインターフェース, パーツライブラリなど, いくつかの要因によって異なります. 特定の機能が複数の製品に共通している場合もあります. お客様のモデリングニーズに適した製品の組み合わせを決定するために, 製品仕様一覧 を確認し, 無償のトライアルライセンスをご利用ください. COMSOL セールスおよびサポートチームでは, この件に関するご質問にお答えしています.