Magnetic Lens
Application ID: 10185
A scanning electron microscope samples images by scanning a target with a high-energy beam of electrons. The subsequent electron interactions produce signals such as secondary and back-scattered electrons that contain information about the sample surface topography. Electromagnetic lenses are used to focus this electron beam down to a spot about 10 nm wide on the sample surface.
This model requires both the Particle Tracing Module and the AC/DC Module.
この model の例は, 通常次の製品を使用して構築されるこのタイプのアプリケーションを示しています.
ただし, これを完全に定義およびモデル化するには, 追加の製品が必要になる場合があります. さらに, この例は, 次の製品の組み合わせのコンポーネントを使用して定義およびモデル化することもできます.
- COMSOL Multiphysics® and
- AC/DC モジュール and
- 粒子追跡モジュール
アプリケーションのモデリングに必要な COMSOL® 製品の組み合わせは, 境界条件, 材料特性, フィジックスインターフェース, パーツライブラリなど, いくつかの要因によって異なります. 特定の機能が複数の製品に共通している場合もあります. お客様のモデリングニーズに適した製品の組み合わせを決定するために, 製品仕様一覧 を確認し, 無償のトライアルライセンスをご利用ください. COMSOL セールスおよびサポートチームでは, この件に関するご質問にお答えしています.