Thin Layer Chronoamperometry
Application ID: 14423
The common electroanalytical method of exhaustive amperometric detection in a microscopic thin layer is modelled as a 1D-symmetric diffusion problem. The simulated result agrees with the analytical Cottrell equation at short times, and deviates as expected at long times when the diffusion layer spans the thin layer cell.
この model の例は, 通常次の製品を使用して構築されるこのタイプのアプリケーションを示しています.
ただし, これを完全に定義およびモデル化するには, 追加の製品が必要になる場合があります. さらに, この例は, 次の製品の組み合わせのコンポーネントを使用して定義およびモデル化することもできます.
- COMSOL Multiphysics® and
- either the バッテリデザインモジュール, 腐食解析モジュール, 電気化学モジュール, 電気めっきモジュール, or 燃料電池&電解槽モジュール
アプリケーションのモデリングに必要なCOMSOL®製品の組み合わせは, 境界条件, 材料特性, 物理インターフェース, 部品ライブラリなど, いくつかの要因によって異なります. 特定の機能が複数の製品に共通している場合もあります. お客様のモデリングニーズに適した製品の組み合わせを決定するために, 製品仕様一覧 を確認し, 無償評価ライセンスをご利用ください. COMSOL セールスおよびサポートチーム](/contact) では, この件に関するご質問にお答えしています.